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我司光纖延遲線均已用這款高精度光延時測量儀中國計量院認可的測量設備進行測量標定

發布時間:2019-09-25

高精度光延時測量儀

ODM-C

ODM型高精度光延時測量儀采用微波光子學測量方法,可實現光纖長度等延時參數的精確測量。較傳統的OTDR技術、色散測量技術,能成倍提升測量精度。本測量儀具有測量精度高、測量長度大、測量速度快、操作簡便等優點。適用于高精度光纖傳感、光子雷達等領域的精準延時測量。

ODM型高精度光延時測量儀的反射式工作模式,僅需一個端口連接待測光纖即可實時顯示測量結果,測量準確。本儀器同時支持兩端口直通測量,并可按客戶需求進行硬件和軟件上的定制服務。


?   支持反射式測量與直通式測量,精度低至0.1mm,測量長度可達5km;

?   1310nm/1550nm測量波長可調,支持商用多波段測量;

?   測量速度快,接入即可自動測出長度,極大節約時間;

?   可定制化的光纖連接器,適用于各種應用場合;

?   折射率可校準,支持多種折射率光纖精確延時測量;

?   可導出數據,便于后期處理;


產品應用:

?    光纖干涉器:精確測量光纖干涉器的臂差;

?    光控相控陣雷達;精確控制雷達陣元光延時;

?    光纖通信:精確測量通信系統中的信號延時

?    光纖陀螺:精確測量陀螺光纖延時

?    其他領域:其他需要精確測量光路延時的場合。






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